錦正茂成立于
研發(fā)團(tuán)隊(duì)占公司總?cè)藬?shù)
技術(shù)攻關(guān)與研發(fā)
用心服務(wù)客戶(hù)
產(chǎn)品展示
描述：定制實(shí)驗(yàn)室低溫制冷設(shè)備-氣氛型液氮恒溫器氣氛型液氮恒溫器，可以將樣品放置于靜態(tài)的氦氣當(dāng)中，使樣品本身可以充分冷卻，這種設(shè)計(jì)方案可以對(duì)導(dǎo)熱率差、不易熱錨的樣品均勻冷卻（eg：液體、粉末、以及一些形狀不規(guī)...
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描述：4K閉循環(huán)低溫恒溫器 低溫實(shí)驗(yàn)制冷設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊、性?xún)r(jià)比高、達(dá)到低溫不消耗制冷劑，維護(hù)周期長(zhǎng)、擴(kuò)展性強(qiáng)、使用方便；多種鍍金無(wú)氧銅樣品座，可滿(mǎn)足不同實(shí)驗(yàn)要求的測(cè)量需求，可快速更換樣品座。
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描述：錦正茂定制實(shí)驗(yàn)儀器 磁場(chǎng)控制平臺(tái)FCP磁場(chǎng)控制平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)配置：TESTIK475有1個(gè)計(jì)算機(jī)接口：RS-232串口:。這個(gè)接口可以設(shè)置所有儀器參數(shù)和測(cè)量值得讀回。
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描述：高溫磁場(chǎng)退火爐 磁性材料實(shí)驗(yàn)爐實(shí)驗(yàn)室設(shè)備在強(qiáng)磁場(chǎng)（或無(wú)磁）環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行加熱，加熱到一定溫度（用戶(hù)需要自己設(shè)定）并保持在該溫度，再持續(xù)加一個(gè)磁場(chǎng)（可隨時(shí)變化），達(dá)到用戶(hù)的目的后，關(guān)閉磁場(chǎng)，關(guān)閉加熱環(huán)...
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描述：錦正茂定制 高低溫磁場(chǎng)探針臺(tái)材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)探針臺(tái)該類(lèi)型的探針臺(tái)主要依據(jù)客戶(hù)的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
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描述：定制二維實(shí)驗(yàn)室電磁鐵LY100-2 勵(lì)磁裝置北京錦正茂科技有限公司自主研發(fā)的多極電磁鐵以四極電磁鐵居多，也有五極、六極、八極等多極的應(yīng)用，主要應(yīng)用于多極磁環(huán)充磁、徑向梯度磁場(chǎng)、旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)磁導(dǎo)向等多種應(yīng)用...
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描述：4K超低震動(dòng)變溫系統(tǒng)液氦極低溫液氦杜瓦集成控制系統(tǒng)：控制真空系統(tǒng)、制冷機(jī)的運(yùn)行及安全反饋功能。可設(shè)置和顯示工作目標(biāo)參數(shù)和系統(tǒng)工作狀態(tài)，具備反饋安全控制功能。
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描述：10nm級(jí)4K液氦極低溫系統(tǒng) 低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備該系統(tǒng)由氦制冷機(jī)、氦壓縮機(jī)、水冷機(jī)、真空泵組、溫度傳感器、控溫儀、真空腔體、KF25真空抽口、以及制冷機(jī)支架、樣品臺(tái)、樣品卡等附件共同構(gòu)成。
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錦正科技以現(xiàn)代高科技產(chǎn)業(yè)和傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)為核心業(yè)務(wù)，對(duì)內(nèi)承接科研生產(chǎn)任務(wù)，對(duì)外以商務(wù)平臺(tái)方式實(shí)現(xiàn)軍民兩用技術(shù)成果轉(zhuǎn)換，形成了科學(xué)管理的現(xiàn)代化經(jīng)營(yíng)模式，專(zhuān)門(mén)從事物理、化學(xué)和材料等領(lǐng)域的科學(xué)儀器研發(fā)、銷(xiāo)售各類(lèi)型超低溫測(cè)試設(shè)備（液氮液氦）制冷機(jī)系統(tǒng)集成，定制，高低溫真空磁場(chǎng)發(fā)生系統(tǒng)，Helmholtz線圈（全套解決方案），電磁鐵（全系列支持定制），螺線管，電子槍?zhuān)ǜ叻€(wěn)定性雙極性磁鐵恒流電源1ppm），高低溫磁場(chǎng)真空探針臺(tái)，霍爾測(cè)試系統(tǒng)，電輸運(yùn)測(cè)量解決方案，磁光克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)等產(chǎn)品種類(lèi)齊全，性能可靠，至今已...
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探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電以及集成電路等行業(yè)，用于測(cè)試、調(diào)試和維修電子設(shè)備、電路板和芯片。探針臺(tái)具有以下優(yōu)勢(shì)：1.能夠確保相關(guān)產(chǎn)品研發(fā)的質(zhì)量。2.能夠有效縮短研發(fā)時(shí)間和資金成本。3.可以縮減器件的制作工藝成本。4.具有更加可靠和省時(shí)省力的優(yōu)勢(shì)，可以縮減器件的制作工藝成本。5.可以在真空條件下操作，提高了測(cè)試的準(zhǔn)確度。6.具有高剛性的硅片承載臺(tái)和高精度的探針控制系統(tǒng)，有效提高了測(cè)試精度。7.可選配接入光纖，可將一根或幾根電學(xué)探針替換為光纖，提高了測(cè)試靈活性。8.具有優(yōu)良的直流...
在現(xiàn)代材料科學(xué)與半導(dǎo)體技術(shù)的研究中，霍爾效應(yīng)測(cè)試是評(píng)估材料電學(xué)性能的關(guān)鍵手段之一。它能夠提供關(guān)于材料載流子濃度、遷移率以及電導(dǎo)率等重要參數(shù)的信息，對(duì)于新型材料的研發(fā)、器件的設(shè)計(jì)以及生產(chǎn)工藝的優(yōu)化都有著重要的作用。然而，傳統(tǒng)的霍爾效應(yīng)測(cè)試設(shè)備在面對(duì)復(fù)雜環(huán)境和長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)測(cè)試時(shí)，往往會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)漂移、測(cè)量不準(zhǔn)確等問(wèn)題。為了解決這些問(wèn)題，可變溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀應(yīng)運(yùn)而生，其高穩(wěn)定性設(shè)計(jì)為長(zhǎng)期連續(xù)測(cè)試提供了可靠的保障。可變溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀的核心優(yōu)勢(shì)在于其高穩(wěn)定性設(shè)計(jì)。這種設(shè)計(jì)不僅體現(xiàn)在硬件的...
探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。探針臺(tái)的功能都有哪些？1.集成電路失效分析2.晶圓可靠性認(rèn)證3.元器件特性量測(cè)4.塑性過(guò)程測(cè)試(材料特性分析)5.制程監(jiān)控6.IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試7.液晶面板的特性測(cè)試8.印刷線路板的電性測(cè)試9.低噪音/低電流測(cè)試10.微波量測(cè)(高頻)11...
移動(dòng)樣品后畫(huà)面變模糊：原因可能是顯微鏡不垂直，需要調(diào)垂直顯微鏡樣品臺(tái)不水平：需要調(diào)水平樣品臺(tái)顯微鏡視場(chǎng)亮度不足，邊緣切割或看不到像：原因可能是轉(zhuǎn)換器不在定位位置上，需要把轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)到定位位置上。管鏡轉(zhuǎn)盤(pán)不在定位位置上：需要把管鏡轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)到定位位置上照明的亮度不足：需要調(diào)節(jié)光源亮度或者把孔徑光欄孔調(diào)大沒(méi)有裝目鏡：需要裝上目鏡沒(méi)有裝物鏡：需要裝上物鏡顯微鏡像質(zhì)變差：原因可能是目鏡臟物鏡臟管鏡臟，需要對(duì)目鏡，物鏡，管鏡臟的地方進(jìn)行清潔孔徑光欄關(guān)的太大或者太小：需要調(diào)節(jié)孔徑光欄沒(méi)有調(diào)好焦...
錦正茂高低溫真空磁場(chǎng)探針臺(tái)探針臺(tái)配備4個(gè)（可選6個(gè)或8個(gè)）擁有高精度位移的探針臂，同時(shí)配有高精度電子顯微鏡，便于微小樣品的觀察操作。探針可通過(guò)直流或者低頻交流信號(hào)，用來(lái)測(cè)試芯片、晶圓片、封裝器件等，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、MEMS、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。測(cè)試范圍：磁特性測(cè)試、微波特性測(cè)試、直流、RF特性測(cè)試，微電子機(jī)械系統(tǒng)，超導(dǎo)電性測(cè)試，納米電路的光電屬性，量子點(diǎn)和線，高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。技術(shù)指標(biāo)：型...
高低溫探針臺(tái)是一種用于材料科學(xué)、物理、化學(xué)等領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，主要用于在高溫和低溫環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行各種實(shí)驗(yàn)和研究。工作原理是將樣品放置在加熱和冷卻組件上，然后使用各種測(cè)量?jī)x器對(duì)其進(jìn)行實(shí)驗(yàn)和測(cè)量。具體來(lái)說(shuō)，其工作流程如下：將樣品放置在加熱和冷卻組件上；啟動(dòng)加熱系統(tǒng)，將樣品加熱到所需的溫度；啟動(dòng)制冷系統(tǒng)，將冷卻組件降溫到所需的溫度；通過(guò)各種測(cè)量?jī)x器對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)驗(yàn)和測(cè)量；記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析和處理；結(jié)束實(shí)驗(yàn)后，關(guān)閉加熱和制冷系統(tǒng)，并解除真空狀態(tài)，取出樣品。總之，高低溫探針臺(tái)是一種非...
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